激發(fā)輻射的散射將影響樣品中元素的特征輻射強(qiáng)度，這是由于散射過(guò)程將影響光譜的背景。此外，還存在兩個(gè)主要的效應(yīng)：樣品中激發(fā)輻射被吸收和由此產(chǎn)生的或由其他元素（基體）發(fā)射的熒光輻射及樣品中其他元素的次級(jí)激發(fā)（增強(qiáng)）。

　　臺(tái)式能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀樣品中測(cè)試元素的特征譜線(xiàn)的強(qiáng)度會(huì)受到其它元素的干擾，典型的干擾如下：

　　1、逃逸峰

　　逃逸峰的產(chǎn)生機(jī)理：進(jìn)入硅檢測(cè)器的X熒光如果其能量比硅的吸收限（1.74KeV）高，那么該入射X熒光會(huì)激發(fā)出新的硅X熒光，當(dāng)部分硅的X熒光逃逸出監(jiān)測(cè)器時(shí)，探測(cè)器只能探測(cè)到原入射X熒光損失了1.74KeV之后的能量，從而形成逃逸峰。

　　2、和峰

　　和峰的產(chǎn)生機(jī)理：當(dāng)多束X熒光在幾乎同一時(shí)間射入檢測(cè)器時(shí)，這些射線(xiàn)的能譜累積處會(huì)出現(xiàn)和峰，檢測(cè)器會(huì)將其誤判為另外一種元素的特征射線(xiàn)。在針對(duì)RoHS禁用物質(zhì)的檢測(cè)中，如果鉛大量存在，那么，在Pb-Lb1、Pb-Lα線(xiàn)累積并加倍的位置會(huì)出現(xiàn)一個(gè)和峰，該峰于Cd的能譜位置重疊，對(duì)元素Cd的測(cè)定產(chǎn)生影響。

　　3、As對(duì)Pb的影響

　　在對(duì)RoHS禁用物質(zhì)的檢測(cè)中，Pb-Lα線(xiàn)和As-Kα線(xiàn)有重疊，因此，在樣品中含有大量元素As時(shí)，會(huì)對(duì)元素Pb的測(cè)定結(jié)果產(chǎn)生影響。

　　4、高Br對(duì)Pb的影響

　　當(dāng)樣品中含有大量Br的時(shí)候，會(huì)把相鄰的Pb、Lb峰蓋住或抬高,則影響到元素Pb的測(cè)定結(jié)果。