X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
X熒光光譜儀是專門為工業(yè)用戶設(shè)計(jì)的、全集成化的X射線熒光光譜儀系統(tǒng),小型化、高可靠性,它不需要任何外部輔助系統(tǒng)、如變壓器、液氮或冷卻水;主機(jī)采用220V交流電源,即可以安裝在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用,也可以安裝在質(zhì)量控制現(xiàn)場(chǎng)使用。儀器可以在任何環(huán)境中,每周七天,每天24小時(shí)連續(xù)運(yùn)行。
X熒光光譜儀的性能特點(diǎn):
1、分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3、非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5、分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
6、制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,可以分析鋼鐵、有色金屬、土壤、水泥、油品、礦石、耐火材料、玻璃以及用戶特殊材料。根據(jù)不同的樣品,儀器可以檢測(cè)從ppm到%不同含量范圍內(nèi)的元素及化合物。