本文由馬爾文帕納科亞太應(yīng)用中心技術(shù)經(jīng)理朱曉東供稿

本文摘要

本文將向您介紹如何利用Data Viewer數(shù)據(jù)讀譜軟件，將馬爾文帕納科衍射儀測(cè)量獲得的XRD譜圖，輕松制作成學(xué)術(shù)文章中常用的多譜圖層疊比較圖。

關(guān)于Data Viewer 軟件

多譜圖層疊比較是學(xué)術(shù)文章中常見的XRD附圖，一般用Origin等軟件做圖，但是先要轉(zhuǎn)化數(shù)據(jù)格式，再把多個(gè)數(shù)據(jù)一個(gè)一個(gè)導(dǎo)入到Origin里，然后調(diào)整各個(gè)譜圖間的間距，改變兩個(gè)坐標(biāo)軸的標(biāo)注等等步驟，有些繁瑣。而對(duì)于Malvern PANalyitcal衍射儀測(cè)量得到的XRD譜圖，其實(shí)可以用Data Viewer軟件輕松獲得。

Data Viewer是馬爾文帕納科開發(fā)的XRD數(shù)據(jù)看譜軟件：免費(fèi)，無(wú)需激活。一般來(lái)說(shuō)，可以在測(cè)量軟件Data Collector的安裝光盤里找到它的安裝程序（在光盤底目錄的External子目錄里）。

使用Data Viewer 軟件制作層疊比較

1：如下圖，用Data Viewer打開要做層疊比較的譜圖數(shù)據(jù)，這時(shí)Data Viewer會(huì)自動(dòng)生成一個(gè)Combined Graph標(biāo)簽來(lái)把所有打開的數(shù)據(jù)放在同一個(gè)圖里：

2：如下圖，雙擊Combined Graph圖中左上角的圖例，會(huì)打開一個(gè)對(duì)話框：

3：點(diǎn)擊該對(duì)話框左側(cè)按鈕列里的Data Sets按鈕：

數(shù)據(jù)譜線設(shè)置列表中

各選項(xiàng)列的定義：

? Visible：設(shè)置是否在Combined Graph中顯示該數(shù)據(jù)；

?Description：可修改該數(shù)據(jù)在圖例中的名稱；

? Line：可選框列設(shè)置是否顯示該數(shù)據(jù)的線條（雙擊Line線條列可設(shè)置線條的顏色/粗細(xì)/線型）；

? Marker：可選框列設(shè)置是否顯示該數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)點(diǎn)（雙擊Marker形狀列可設(shè)置數(shù)據(jù)點(diǎn)的顏色/形狀/尺寸）；

?Factor：可設(shè)置該數(shù)據(jù)強(qiáng)度的整體縮放（不改變?cè)紨?shù)據(jù)，只改變?cè)?strong>Combined Graph圖中的顯示）；

?  Horizontal Offset：可設(shè)置該數(shù)據(jù)譜線在圖中的左右平移（不改變?cè)紨?shù)據(jù)，只改變?cè)?strong>Combined Graph圖中的顯示）；

? Vertical Offset：可設(shè)置該數(shù)據(jù)譜線在圖中的的上下平移（不改變?cè)紨?shù)據(jù)，只改變?cè)?strong>Combined Graph圖中的顯示）

在縱坐標(biāo)線性坐標(biāo)下（圖上右鍵菜單選中Linear），將幾個(gè)數(shù)據(jù)的Vertical Offset設(shè)置為等差數(shù)列，即可將它們的譜線上下等間距層疊開：

4：設(shè)置完成后，點(diǎn)擊OK按鈕，然后就得到我們想要的效果了：

5：要往圖上添加符號(hào)（如+、*、#、$等）來(lái)標(biāo)識(shí)不同物相，可以用圖上右鍵菜單New Annotation...，已添加上的標(biāo)識(shí)可以用鼠標(biāo)拖動(dòng)來(lái)改變它的位置，也可以雙擊它去設(shè)置它的字體/顏色/尺寸/連接線等；

6：接下來(lái)可以用菜單Edit - Copy Graph to Clipboard（快捷鍵Ctrl+C）將圖復(fù)制到剪貼板，或者可以用菜單File - Save Graph as...將圖保存為圖片格式，然后粘貼到文章中即可。

>>> 關(guān)于馬爾文帕納科

馬爾文帕納科的使命是通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行化學(xué)、物性和結(jié)構(gòu)分析，打造出客戶導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù)，從而提高效率和產(chǎn)生可觀的經(jīng)濟(jì)效益。通過(guò)利用包括人工智能和預(yù)測(cè)分析在內(nèi)的最近技術(shù)發(fā)展，我們能夠逐步實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。這將讓各個(gè)行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師可以解決一系列難題，如提高生產(chǎn)率、開發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品，并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。