納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進的物理性能測試儀器，主要用于材料科學、生物學、預防醫(yī)學與公共衛(wèi)生學、臨床醫(yī)學等領域。該儀器通過d特的分析技術，能夠實現(xiàn)對納米顆粒的精確測量和分析，為科學研究和技術應用提供了重要的支持。其原理是利用光散射和布朗運動的特性來獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。

　　其使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后，可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進行處理，如計算平均直徑、濃度等參數(shù)。

　　納米顆粒跟蹤分析儀的主要結構：

　　1、光源模塊：使用固態(tài)激光模塊，通常波長為488 nm，用于照射樣品并產生散射光。

　　2、檢測池溫控系統(tǒng)：采用帕貼技術和PID反饋控制，確保測量過程中的溫度穩(wěn)定，溫度范圍為低于室溫5℃至50℃，溫控準確性在1℃以內。

　　3、檢測光電單元：配備sCMOS檢測器，能夠高效捕捉散射光信號，并進行粒徑分析。

　　4、樣品量控制：最少需要200μL的樣品量，通過微流量注射器泵提供恒定流速，保持樣品中的顆粒處于流動狀態(tài)，便于軌跡跟蹤。

　　5、光學鏡頭：配備20倍光學鏡頭，結合顯微鏡物鏡和數(shù)字相機，實現(xiàn)對納米顆粒的精確觀察和追蹤。

　　6、熒光濾光片套件：包含長通濾光片，用于收集波段高于500nm的熒光信號，適用于熒光樣品的檢測。

　　7、軟件系統(tǒng)：集成先進的分析軟件，能夠處理和分析收集到的數(shù)據(jù)，提供粒徑分布、濃度和其他相關參數(shù)的信息。