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X射線衍射儀（XRD）是一種利用X射線衍射原理精確測定物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力的儀器。它的發(fā)展與應(yīng)用極大地推動(dòng)了多個(gè)領(lǐng)域的科技進(jìn)步。自1912年德國物理學(xué)家勞厄提出X射線衍射理論以來，X射線衍射技術(shù)不斷得到完善和發(fā)展。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，X射線衍射儀的精度和穩(wěn)定性得到了顯著提高，使得其在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。在材料科學(xué)領(lǐng)域，X射線衍射儀被用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、相變行為和應(yīng)力狀態(tài)。通過分析材料的衍射花樣，可以獲得關(guān)于晶體結(jié)構(gòu)、晶胞大小、原子排列等詳細(xì)信息，為材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化...

X射線衍射儀是一種重要的分析儀器，在多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用?；赬射線衍射原理工作。當(dāng)X射線照射到物質(zhì)上時(shí)，會(huì)受到物質(zhì)中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波。這些散射波相互干涉，形成衍射現(xiàn)象。通過分析衍射結(jié)果，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力等信息。在使用X射線衍射儀時(shí)，可能會(huì)遇到一些常見問題，這些問題可能會(huì)影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是一些常見的問題及其可能的解決方案：1、樣品準(zhǔn)備不當(dāng)：問題：樣品表面不平整或含有雜質(zhì)，可能會(huì)導(dǎo)致衍射峰形變寬或出現(xiàn)額外的峰。解決方案：確...

激光噴霧粒度儀是一種高精度的粒度分析儀器，基于激光散射原理工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時(shí)，顆粒會(huì)對(duì)激光產(chǎn)生散射。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強(qiáng)度，可以得到顆粒的粒度分布信息。采用激光衍射技術(shù)測量噴霧劑滴液及噴霧劑顆粒粒度。當(dāng)激光束穿過噴霧時(shí)，通過測量散射光的強(qiáng)度來完成粒度測量。之后，所得數(shù)據(jù)用于分析計(jì)算形成該散射光譜圖的滴液粒度。激光噴霧粒度儀的操作技巧：1、光源選擇：氦氖激光器具有線寬窄、單色性好的特點(diǎn)，而半導(dǎo)體激...

納米粒度電位儀是一種專門用于測量納米級(jí)顆粒物粒度和電位的先進(jìn)儀器。其結(jié)合了激光散射技術(shù)和電泳光散射技術(shù)。當(dāng)激光通過儀器的樣品池時(shí)，激光會(huì)與顆粒物相互作用，產(chǎn)生散射光。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒物的粒度和濃度密切相關(guān)。儀器通過測量散射光的光強(qiáng)和角度，可以計(jì)算出顆粒物的粒度。同時(shí)，納米粒度電位儀還會(huì)給顆粒物施加一個(gè)電場，利用電泳光散射技術(shù)測量顆粒物的泳動(dòng)速度，從而得出顆粒物的電位。納米粒度電位儀的維護(hù)方法：1、定期清洗：操作者需要定期清洗和消毒儀器操作界面和各電極表面，確保沒有殘留...

工業(yè)衍射儀是一種在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用的重要分析儀器，它主要通過衍射現(xiàn)象來獲取材料的晶體結(jié)構(gòu)信息。當(dāng)光（通常是X射線或中子束）通過物體表面或穿過物體時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，即光波的傳播方向發(fā)生偏轉(zhuǎn)。工業(yè)衍射儀利用這種現(xiàn)象，通過單色光源照射樣品，并收集和解析樣品衍射產(chǎn)生的干涉圖案（即衍射圖樣），從而獲取材料的晶格參數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)等信息。工業(yè)衍射儀的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：1、X射線/中子發(fā)生器功能描述：X射線/中子發(fā)生器是工業(yè)衍射儀的核心部件，負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能量的X射線或中子束。這些...