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X射線熒光能譜儀是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光能譜儀的選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光能譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量剖析。X射線是用高速電子轟擊原子的內(nèi)層電子,使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時外層的電子躍遷到缺少電子的內(nèi)層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長小，肉眼不可見，稱之為X射線。X射線熒光能譜儀波長也...

xrf分析儀可用于驗證焊縫材料成份：合金部件或組件的強度取決于焊縫的強度。采用合適的填充材料，形成兩個合金零件之間的焊縫，對于確保部件的可靠性和完好性十分重要。如果要在預(yù)期的條件下，在預(yù)期的時間長度內(nèi)，確保焊縫強度*可靠，*的方法是采用符合規(guī)格的焊縫材料。確定焊縫材料規(guī)格時，不僅要依據(jù)焊縫本身的預(yù)期性能，而且要依據(jù)被焊接在一起的本體合金的性質(zhì)。造成焊縫材料偏離規(guī)格的原因有很多，包括加工時出現(xiàn)材料混淆，或者供應(yīng)商提供了錯誤的材料。如果出現(xiàn)焊縫材料混淆，需要花費很多的時間和費用進...

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，廣泛應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。X射線衍射儀的原理介紹：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的...

工業(yè)X射線衍射儀是進行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。工業(yè)X射線衍射儀帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。工業(yè)X射線衍射儀的X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進行物相鑒定的粉末法。工業(yè)X射線衍射儀可用于點陣常數(shù)的測定：點陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)...

進口X射線衍射儀的衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。晶體取向的測定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學取向與...