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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...
X射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后,很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu),已經(jīng)成為研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法。(1)物相分析是X射線衍射在金屬中用得zui多的方面,又分為定性分析和定量分析。定性分析是把對待測材料測得的點(diǎn)陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以確定材料中存在的物相;定量分析則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度,確定待測材料中各相的比例含量。(2)精密測定點(diǎn)陣參數(shù)常用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的繪制。溶解度的變化往往引起點(diǎn)陣常數(shù)的變化;當(dāng)達(dá)到溶解限后,溶質(zhì)的繼續(xù)增加...
X射線熒光光譜儀,尤其是順序式X射線熒光光譜儀,每一個(gè)測量過程都有許多部件在動(dòng)作,精密度測試即測試這些部件的到位精密度。計(jì)量方法:連續(xù)測量20次,每次測量都改變機(jī)械設(shè)置條件,包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2Η角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺位置等,精密度以相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示,要求RSD≤2.0√N(yùn)1/2×100%(N為平均累計(jì)計(jì)數(shù))。波長色散X射線熒光光譜儀在平均累計(jì)計(jì)數(shù)為1910354時(shí)的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.09%,精密度限值為0.14%。在澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)中要求對每一個(gè)運(yùn)動(dòng)部件分...
以金礦三、四期礦樣的物質(zhì)成分研究進(jìn)行說明X衍射的工作方法和分析步驟,具體如下:1、礦樣特征由于三、四期礦樣均為褐色砂狀礦樣,以氧化物為主,用水析分離后表明三期礦石風(fēng)化程度較大。2、光譜分析對礦樣的平均樣品進(jìn)行光譜分析,確定礦樣中大致上所含元素種類。光譜分析結(jié)果表明硅、鋁、鎂、鐵含量較高,同時(shí)還有其他元素少量或微量。3、化學(xué)分析對含量較高的元素進(jìn)行化學(xué)分析,得出元素在礦樣中的具體含量?;瘜W(xué)分析結(jié)果表明礦樣的主要元素為二氧化硅,次要元素為鐵、氧化鋁和氧化鎂。三期礦石含硫較低,其他...
1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經(jīng)機(jī)構(gòu)檢測合格后每3個(gè)月進(jìn)行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質(zhì)進(jìn)行核查。3、X熒光光譜儀核查內(nèi)容①PE基質(zhì)工作曲線用已有的PE基質(zhì)工作曲線測定PE基質(zhì)的定值物質(zhì)6次,其定值為:Cr:600ppm、Cd:310ppm、Hg:600ppm、Pb:620ppm、Br:590ppm,計(jì)算出其平均值和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。要求各個(gè)元素的平均值落在定值的95-105%之間,相對標(biāo)準(zhǔn)偏差必須小于10%。②PVC基質(zhì)工作曲線用已有的PVC...
一、進(jìn)口X射線衍射儀制樣中應(yīng)注意的問題1、樣品粉末的粗細(xì):樣品的粗細(xì)對衍射峰的強(qiáng)度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右,以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結(jié)晶完整,亞結(jié)構(gòu)大,或鑲嵌塊相互平行,使其反射能力降低,造成衰減作用,從而影響衍射強(qiáng)度。2、樣品的擇優(yōu)取向:具有片狀或柱狀*解理的樣品物質(zhì),其粉末一般都呈細(xì)片狀或細(xì)律狀,在制作樣品過程中易于形成擇優(yōu)取向,形成定向排列,從而引起各衍射峰之間的相對強(qiáng)度發(fā)生明顯變化,有的甚至是成倍地變化。對于此類物質(zhì),...