納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數(shù)，因此對納米顆粒粒度的準(zhǔn)確測量具有重要意義。通過測量溶液中納米顆粒的散射光強在固定空間位置的漲落，動態(tài)光散射（DLS）方法能夠獲取顆粒的粒度信息，由于該方法測量速度快、重復(fù)性好、對樣品無損傷等優(yōu)點而被廣泛采用，并成為國際標(biāo)準(zhǔn)化組織認定的測量納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)手段。

Zeta電位是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)，也可以用來評價粉體改性效果。比如在零Zeta電位點時，粒子表面不帶電荷，顆粒間的吸引力大于雙電層之間的排斥力，此時懸浮體的顆粒易發(fā)生凝聚或絮凝；當(dāng)粒子表面電荷密度較高時，粒子有較高的Zeta電位，粒子表面的高電荷密度使粒子間產(chǎn)生較大的靜電排斥力，懸浮體保持較高的分散穩(wěn)定性。

顆粒的Zeta電位是指在特定的溶液環(huán)境中（包括溶劑的種類、pH條件、酸堿種類和濃度、小分子鹽的種類和濃度、添加劑如表面活性劑的種類和濃度）顆粒的Zeta電位值的大小和符號。由此可知，Zeta電位是對某顆粒溶液體系的評估檢測，而非單純針對顆粒。