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淺析在線粒度儀相比傳統(tǒng)離線粒度測試方法的優(yōu)勢
發(fā)布時(shí)間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-11-22

    激光粒度儀是一種基于激光散射原理,用于測量顆粒大小和分布的精密儀器。其工作原理是利用激光的散射現(xiàn)象來測量顆粒的大小。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí),會(huì)發(fā)生散射現(xiàn)象,散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。儀器通過收集和分析散射光的信號,來確定顆粒的大小分布。具體來說,激光粒度儀通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集,并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-11-20

    x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級X射線,即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí),會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出,導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí),會(huì)釋放出特征X射線,這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測這些特征X射線,可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)介紹:1、主控制臺(tái)功能模塊:主控制臺(tái)是核心部分,包括檢測、控制、數(shù)據(jù)處理等功能模塊,負(fù)責(zé)...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-11-18

    粉末衍射儀,特別是粉末X射線衍射儀,是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器,在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中,聚焦圓的半徑會(huì)不斷改變,但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-11-13

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級X射線,即X射線熒光。這些次級X射線具有特定的能量或波長特性,與元素的種類有關(guān)。因此,通過測量這些次級X射線的能量或波長,可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。X射線熒光光譜儀的維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要,以下是一些關(guān)鍵的維護(hù)保養(yǎng)措施:1、儀器清潔:定期使用無紡布或棉布擦拭儀器的外表面,以保持其干凈。在清潔過程中,禁止使用含有溶劑的清潔劑,以免損壞儀器...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-11-12

    在上一篇“MP工具箱”文章中,我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報(bào)告中的的參數(shù)都代表了哪些含義,那么如何判斷納米粒度儀測試結(jié)果的質(zhì)量呢?本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結(jié)果前,我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說,在合適的濃度范圍內(nèi),粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對countrate(測試光強(qiáng))和attenuator(衰減器編號)等參數(shù)來考察...

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